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  • 202510-28
    美國RMC超薄切片機工作原理,納米級精度背后的技術協同

    美國RMC超薄切片機作為精密制樣設備的代表,其核心工作原理圍繞“機械進給控制”“熱膨脹補償”與“實時成像反饋”三大技術模塊展開,通過多系統協同實現納米級切片精度。這一技術體系不僅支撐了生物醫學、材料科學等領域的微觀結構研究,更成為透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)等高級分析設備的前處理關鍵工具。一、機械進給系統:納米級位移的精準控制美國RMC超薄切片機采用雙驅動機械架構,將樣品進給與刀片移動分離控制。樣品臂通過高精度滾珠絲桿與步進電機連接,電機每接收一個脈沖,絲桿旋轉推動...

  • 202510-28
    Sensofar 重磅升級!ePSI算法+智能APM模塊,重新定義光學測量精度極限?

    工業檢測領域再迎技術革新!Slynx2全新升級版正式發布,以「更好、更快、更智能」為核心,融合光學技術與自動化工具,為3D光學計量學樹立新。無論面對光滑、階梯狀還是粗糙表面,它都能以亞納米級精度輕松應對。1技術跨越:ePSI算法開啟亞納米時代本次升級的核心亮點是全新ePSI干涉算法的加入。這項技術突破帶來三大革命性提升:1精度躍遷:測量噪聲低至0.1nm(亞納米級),堪稱超光滑表面檢測的解決方案2復雜表面征服者:對具有臺階或局部傾斜的樣品實現無失真成像3抗干擾升級:消除傳統干...

  • 202510-22
    奧林巴斯超景深顯微鏡突破景深極限的“三維成像術”

    在材料科學、地質學、電子制造等領域,觀察表面起伏劇烈的樣品時,傳統光學顯微鏡因物理景深有限,常面臨“看清一處,模糊一片”的困境。奧林巴斯超景深顯微鏡正是為解決這一難題而設計。其核心工作原理并非提升鏡頭本身的物理景深,而是通過融合多焦點圖像與計算重構,將不同焦平面的清晰部分“拼接”成一幅整體清晰的二維圖像,并重建出樣品的三維形貌。一、核心原理:景深限制與焦點堆疊理解超景深技術,首先要明確景深的概念。由于光學衍射極限,高倍物鏡的景深極淺(微米級),一次對焦只能使樣品厚度內一個薄層...

  • 20259-27
    奧林巴斯金相顯微鏡操作指南,從樣品觀察到精準分析

    奧林巴斯金相顯微鏡是材料科學、冶金工業和質檢領域進行顯微組織觀察與分析的高精度光學儀器。規范的操作流程不僅能獲得清晰、準確的顯微圖像,更是保護昂貴設備、確保研究成果可靠性的關鍵。掌握其使用方法是每一位金相工作者的必要技能。一、使用前準備:光路校準與樣品安裝1.柯勒照明調整開啟光源后,切勿直接觀察。首先進行柯勒照明調整,這是獲得均勻照明的核心步驟:①放置樣品,聚焦至清晰。②縮小視場光闌,在視野中看到邊緣清晰的多邊形。③調節聚光鏡升降旋鈕,使多邊形邊緣達到最銳利。④調節聚光鏡對中...

  • 20259-21
    徠卡顯微鏡的三大應用領域解析

    在科學研究與工業生產的精密領域中,徠卡顯微鏡憑借其杰出的光學性能與技術創新,成為探索微觀世界的關鍵工具。從生命奧秘的解密到工業質量的把控,再到醫學診療的革新,徠卡顯微鏡通過三大核心應用場景,展現了其在儀器領域的不可替代性。一、生命科學:解碼細胞與分子的微觀密碼徠卡顯微鏡在生命科學領域聚焦于細胞生物學與組織學的深度研究。通過共聚焦顯微鏡、激光顯微切割等高級技術,研究人員可實現對活細胞動態過程的高時空分辨率觀測,甚至解析亞細胞結構的精細構型。其搭載的FusionOptics融合光...

  • 20259-4
    白光干涉輪廓儀解鎖材料多元表面形貌

    在精密制造與材料科學的廣闊領域中,表面形貌的精確測量是確保產品質量、優化性能及推動技術創新的關鍵環節。白光干涉輪廓儀,作為非接觸式三維表面形貌測量的先鋒技術,以其杰出的適應性和高精度,成為了探索微觀世界表面特征的強大工具。它不僅能夠跨越材質界限,從金屬、陶瓷到高分子材料,無一不展現出其測量的廣泛兼容性,更能在復雜結構與多變的表面粗糙度、波度面前游刃有余,幾乎涵蓋了所有類型的表面形貌測量需求。白光干涉輪廓儀的核心優勢在于其利用白光干涉原理,通過分析干涉條紋的變化,實現對表面微觀...

  • 20258-27
    徠卡金相顯微鏡點檢維護全攻略

    在高級制造與材料科研領域,徠卡金相顯微鏡作為觀測材料微觀組織的“核心設備”,其光學性能的穩定性直接影響檢測結果的準確性。然而,環境灰塵、機械振動、光源老化等潛在風險,可能悄然導致圖像模糊、色差偏移甚至硬件故障。本文將從日常點檢、深度維護、故障預判三個維度,系統解析徠卡金相顯微鏡的科學養護方法,助力用戶以“預防性維護”替代“事后維修”,較大化設備生命周期價值。一、日常點檢:10分鐘/日的“光學體檢”,防患于未然每日使用前后進行快速點檢,可及時發現90%以上的潛在問題:1.光學系...

  • 20258-21
    徠卡偏光顯微鏡熒光模塊怎么拍礦物的

    在礦物學研究中,許多關鍵信息隱藏在傳統光學顯微鏡無法觸及的維度——稀土元素的微量分布、晶格缺陷的發光特征、流體包裹體的化學成分……這些“隱形線索”往往需要借助熒光信號才能顯現。徠卡偏光顯微鏡的熒光模塊通過精準激發礦物特定發光波段,結合偏振光對晶格取向的解析能力,為地質學家提供了一套“光色雙修”的礦物分析利器,讓深藏于巖石中的微觀秘密無所遁形。一、熒光激發:從“暗場”到“明場”的礦物發光革命傳統偏光顯微鏡依賴透射光觀察礦物,而熒光模塊通過高能光源(如汞燈、LED或激光)與窄帶濾...

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