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新聞資訊
NEWS INFORMATION
更新時間：2025-10-28
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工業檢測領域再迎技術革新！S lynx 2全新升級版正式發布，以 「更好、更快、更智能」 為核心，融合光學技術與自動化工具，為3D光學計量學樹立新。無論面對光滑、階梯狀還是粗糙表面，它都能以亞納米級精度輕松應對。
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技術跨越：ePSI算法開啟亞納米時代
本次升級的核心亮點是全新 ePSI干涉算法 的加入。這項技術突破帶來三大革命性提升：
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精度躍遷：測量噪聲低至 0.1 nm（亞納米級），堪稱超光滑表面檢測的解決方案
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復雜表面征服者：對具有臺階或局部傾斜的樣品實現無失真成像
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抗干擾升級：消除傳統干涉測量中的條紋噪聲與相位突變問題
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智能進化：自動化程序模塊（APM）重塑工作流
全新設計的APM模塊讓復雜檢測流程變得前所的簡單：
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配方革命：
單測量配方（SMR）：一鍵保存全參數配置
多測量配方（MMR）：在多個位置自動復現掃描程
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效率倍增：
減少90%人工干預
批量檢測一致性提升200%
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場景適配：特別適用于圖案化晶圓、重復質檢等高頻任務
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全能：多技術融合的精密引擎
S lynx 2的緊湊機身蘊藏驚人能量：
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技術矩陣：同時集成 多焦面疊加、共聚焦、干涉測量（含CSI與ePSI）
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智能切換：系統自動匹配最佳技術方案，告別手動調參
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性能鐵三角：
速度 – 毫秒級響應
精度 – 亞納米級誤差
兼容性 – 全表面類型通吃
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為什么選擇升級版S lynx 2？
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航天級精度：0.1 nm分辨率滿足最嚴苛標準
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智能減負：APM模塊讓操作員專注價值決策
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未來兼容：開放式架構支持后續功
S lynx 2的升級不僅是硬件的迭代，更是光學計量智能化的重要里程碑。它正在全球頂尖實驗室和生產線中創造價值——您準備好擁抱這場精度革命了嗎？