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Sensofar三維光學輪廓儀在半導體行業的應用 在半導體制造中，S neox通過共聚焦-干涉協同測量技術，實現了焊點高度、直徑與傾斜角的高精度同步檢測。
更新時間：2026-01-07
產品型號：S?neox
瀏覽量：168
Sensofar輪廓儀從定位到批量檢測的完整流程 作S neox需遵循標準化流程以確保檢測精度。首先清潔樣品臺并固定樣品，通過觸控屏啟動預覽功能框選檢測區域。
更新時間：2026-01-07產品型號：S?neox瀏覽量：163Sensofar共聚焦干涉輪廓儀穩定測量結構支撐 S neox系列分為基礎版、進階版與定制版三大型號，形成從通用檢測到行業專項的完整解決方案。
更新時間：2026-01-07產品型號：S?neox瀏覽量：148Sensofar共聚焦干涉輪廓儀基礎到定制的覆蓋 S neox系列分為基礎版、進階版與定制版三大型號，形成從通用檢測到行業專項的完整解決方案。
更新時間：2026-01-07產品型號：S?neox瀏覽量：149Sensofar白光干涉儀多技術融合精密檢測方案 S neox作為Sensofar推出的新一代3D共聚焦白光干涉光學輪廓儀，通過共聚焦、白光干涉與多焦面疊加技術的協同工作，構建了多維度精密檢測體系。
更新時間：2026-01-07產品型號：S?neox瀏覽量：196
布魯克光學輪廓儀選的對用的久的測量設備 對用戶而言，測量設備的 “長期性價比” 不僅看初期投入，更取決于耐用性與后續維護成本，ContourX-500 在這兩方面均有適配設計，減少長期使用的顧慮。
更新時間：2026-01-07產品型號：ContourX-500瀏覽量：188