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白光干涉儀S neox的工業(yè)檢測適應性:Sensofar S neox經針對性設計,具備抗振、快速測量與自動化特性,能穩(wěn)定應用于工業(yè)現場,實現生產線上高效、精準的三維質量檢測與控制。
更新時間:2026-01-23
產品型號:
瀏覽量:114
白光干涉儀S neox的非接觸測量優(yōu)勢:Sensofar S neox以非接觸光學測量技術,無損表征柔軟、易損或高潔凈樣品的三維形貌,避免劃傷與形變,確保數據真實,適用于精密材料與生物醫(yī)學領域。
更新時間:2026-01-23
產品型號:
瀏覽量:103
白光干涉儀S neox的微電子領域應用:Sensofar S neox為微電子制造提供非接觸式3D計量,應用于晶圓平整度、TSV通孔、封裝凸點及MEMS器件的高精度快速測量,助力工藝控制與良率提升。
更新時間:2026-01-23
產品型號:
瀏覽量:119
白光干涉儀S neox的多功能平臺價值:Sensofar S neox集成共聚焦與干涉等多種光學技術于一體,以單一平臺應對多樣化的表面測量需求,顯著節(jié)省實驗室空間與成本,并提升設備投資回報率。
更新時間:2026-01-23
產品型號:
瀏覽量:109
白光干涉儀S neox的臺階高度測量:Sensofar S neox 3D光學輪廓儀的白光干涉模式,以非接觸方式實現臺階高度測量,具備亞納米級垂直分辨率,可快速、直觀獲取微納尺度三維形貌數據,滿足精密計量需求。
更新時間:2026-01-23
產品型號:
瀏覽量:134
白光干涉儀S neox的粗糙度分析應用:Sensofar S neox將表面粗糙度分析從一維的線分析推進到三維的面分析,提供了更豐富、更具統(tǒng)計意義的表面信息,其非接觸的特點也使其適用于柔軟、易劃傷表面的檢測,為表面形貌的量化評價提供了現代化的工具。
更新時間:2026-01-23
產品型號:
瀏覽量:118