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共聚焦白光干涉輪廓儀S lynx2 擴展功能

產品簡介

共聚焦白光干涉輪廓儀S lynx2 擴展功能
基礎的S lynx2系統已經提供了共聚焦和白光干涉兩種核心測量模式。為了應對更廣泛或更特殊的測量需求,該平臺通常支持一些擴展功能和配件,以增強其應用能力。

產品型號:
更新時間:2026-02-02
廠商性質:代理商
訪問量:24
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共聚焦白光干涉輪廓儀S lynx2 擴展功能

基礎的S lynx2系統已經提供了共聚焦和白光干涉兩種核心測量模式。為了應對更廣泛或更特殊的測量需求,該平臺通常支持一些擴展功能和配件,以增強其應用能力。
1. 大范圍掃描與圖像拼接:
標準物鏡的單次掃描視場是有限的。對于需要測量超出單視場范圍的大面積樣品(如大尺寸光學元件、平板顯示器局部、機械密封面等),可以使用軟件的大范圍掃描和圖像拼接功能。
  • 工作原理:通過高精度的電動載物臺,控制樣品在X和Y方向規則移動,按網格順序依次測量多個相鄰區域。軟件隨后自動將這些區域的測量數據,根據重疊區域的特征進行識別和對齊,拼接成一幅完整、無縫的大尺寸三維形貌圖。


  • 應用價值:可以在保持高分辨率的同時,評估大面積區域的整體平整度、粗糙度分布、缺陷的宏觀分布等,而不會遺漏跨視場的特征。


2. 高速掃描模式:
對于需要快速進行大量樣品檢測或在線監控的應用,某些配置或模式可能提供更高的掃描速度。
  • 實現方式:可能通過優化掃描算法、使用更高速的相機或特定的掃描策略來實現。


  • 應用價值:提高產線上抽樣檢測的吞吐量,或用于監測動態過程(如某些快速變化的表面)的靜態快照。


3. 高動態范圍(HDR)干涉測量:
當樣品表面同時存在高反射率區域(如金屬)和低反射率區域(如深色材料)時,標準白光干涉模式可能難以同時獲得良好的信號。高動態范圍技術通過組合不同曝光時間下采集的多幅干涉圖,擴展探測器的有效動態范圍。
  • 應用價值:能夠對反射率對比強烈的表面(如芯片上的金屬線和介質層)進行一次性測量,無需分別調整參數,簡化了操作并提高了效率。


4. 膜厚測量模式:
對于透明或半透明薄膜(如氧化物薄膜、光刻膠、涂層),標準的形貌測量通常只能得到上表面形貌。專用的薄膜厚度測量模式,利用白光干涉的垂直掃描干涉原理,分析從薄膜上表面和下表面反射光產生的干涉信號,可以非接觸地測量薄膜厚度。
  • 應用價值:適用于半導體、顯示、光學鍍膜等行業,測量單層或多層透明薄膜的厚度及其均勻性。但需要注意,該方法通常需要薄膜有足夠的透明度和上下界面有一定的反射率,且對底層材料的反射特性有要求。


5. 電動傾斜臺:
標準測量要求樣品表面大致垂直于光軸。對于具有固定傾角或需要測量特定傾斜面的樣品,可以配備電動傾斜樣品臺。該樣品臺可以精確地傾斜和旋轉樣品,將待測面調整到適合測量的方向。
  • 應用價值:方便測量斜面、側壁、鉆頭螺旋槽等非水平表面,擴展了可測樣品的范圍。


6. 環境隔離與特殊樣品臺:
  • 隔振臺或主動隔振系統:對于環境振動敏感的高精度測量,可以提供更好的穩定性。


  • 溫控樣品臺:用于研究溫度變化對樣品表面形貌的影響,或在恒溫條件下進行測量。


  • 真空或氣氛控制樣品室:用于測量在空氣中易氧化、潮解或需要特殊氣氛保護的樣品。


7. 專用分析軟件模塊:
除了標準分析包,可能還提供針對特定行業或應用的高級分析模塊,例如:
  • 更復雜的形貌和紋理分析工具


  • 專用行業標準(如汽車、軸承行業標準)的自動報告生成


  • 與統計過程控制(SPC)軟件更深入的集成接口


這些擴展功能并非標準配置,用戶在選型或后續升級時,可以根據自身的具體測量需求(如樣品尺寸、測量速度、特殊樣品特性、環境要求等)向供應商咨詢,選擇適合的配件和軟件模塊,從而將共聚焦白光干涉輪廓儀S lynx2的應用潛力進一步拓展到更專業的領域。

共聚焦白光干涉輪廓儀S lynx2 擴展功能

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