奧林巴斯BX53正置式的多種觀察模式
材料表面的微觀世界信息豐富，不同的觀察方式如同不同的“燈光"，可以揭示出樣品不同側面的特征。
奧林巴斯BX53正置式顯微鏡支持包括明場、暗場、微分干涉相襯、偏光等多種觀察模式，為用戶提供了從多個角度探索材料微觀結構的可能，從而獲取更全面的信息。
明場觀察是最基礎、zui常用的模式。光線垂直或接近垂直地照射在樣品表面，平坦區域將大部分光線反射回物鏡，呈現明亮背景；而凹陷、溝槽、晶界或與基體反射率不同的相，則將部分光線散射掉，呈現較暗的襯度。這種方式對于經過適當侵蝕、不同相之間存在反射率差異的金屬樣品觀察效果良好，是進行常規金相組織分析（如觀察鋼鐵中的珠光體、鐵素體、馬氏體等）的主要方式。
暗場觀察提供了另一種視角。光線以較大的傾斜角照射樣品，只有被樣品表面微小不規則處（如劃痕、孔洞、晶界、第二相粒子）散射的光線才能進入物鏡成像。因此，平坦的背景呈現黑暗，而微小的特征則呈現明亮的像。這種模式特別有利于觀察樣品表面的微小缺陷、非金屬夾雜物，或者那些與基體反射率非常接近、在明場下難以區分的細小析出相。它就像在黑暗中用手電筒側面照射物體，突出表面的不平整。
微分干涉相襯觀察能賦予圖像一種類似三維立體的浮雕感。它利用偏振光干涉的原理，將樣品表面微小的高度差（納米級別）轉換為光強的明暗變化。對于拋光但未侵蝕的樣品，或者表面存在微小浮雕的樣品（如經過輕微蝕刻、或材料本身存在硬度差異導致拋光后產生微小起伏），DIC模式可以清晰地顯示出這些高度差異，使得晶界、相界、劃痕等特征更加突出，圖像更具立體感和細節。
偏光觀察主要用于研究各向異性材料。當光線通過起偏器變為偏振光照射到樣品上，如果樣品是各向異性的（如非立方晶系的金屬、大多數礦物、陶瓷等），其不同晶向對偏振光的反射特性不同，在檢偏器下會呈現出明暗不同的襯度或顏色。旋轉載物臺時，各向異性晶粒的亮度會發生周期性變化。這種模式對于識別多相合金中的不同相、觀察材料的織構（晶粒擇優取向）、以及進行巖相分析非常有用。
BX53正置式顯微鏡實現這些觀察模式的切換，通常是通過更換聚光鏡組件、插入相應的棱鏡和濾光片來實現。其模塊化的設計使得這些切換相對便捷。用戶可以根據樣品的特性和觀察目的，靈活選擇最合適的“燈光"來照亮微觀世界。
掌握并合理運用這些觀察模式，能夠顯著提升材料分析的能力和深度。例如，在觀察一個未知的合金樣品時，可以先使用明場模式觀察其基本組織形貌；切換暗場模式，可能發現明場下不明顯的細小析出物；使用DIC模式，可以更清晰地觀察晶界和相界的輪廓；最后用偏光模式旋轉樣品，有助于鑒別具有各向異性的相。多種模式的結合使用，相當于為眼睛配備了多副不同的“眼鏡"，能夠更全面、更深入地解讀材料所蘊含的微觀信息。奧林巴斯BX53正置式顯微鏡提供的這種多模式觀察能力，使其能夠適應更廣泛的材料分析需求。
奧林巴斯BX53正置式的多種觀察模式
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