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ZYGO光學(xué)元件面形檢測(cè)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

ZYGO光學(xué)元件面形檢測(cè)
光學(xué)元件的面形精度影響光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量。對(duì)面形誤差進(jìn)行檢測(cè),是光學(xué)制造中的重要環(huán)節(jié)。

產(chǎn)品型號(hào):Nexview NX2
更新時(shí)間:2026-01-23
廠商性質(zhì):代理商
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ZYGO光學(xué)元件面形檢測(cè)

光學(xué)元件的面形精度影響光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量。對(duì)面形誤差進(jìn)行檢測(cè),是光學(xué)制造中的重要環(huán)節(jié)。ZYGO Nexview NX2白光干涉儀能夠測(cè)量光學(xué)表面的三維形貌,計(jì)算面形誤差參數(shù),為光學(xué)元件質(zhì)量評(píng)價(jià)提供檢測(cè)數(shù)據(jù)。該設(shè)備在光學(xué)制造行業(yè)有應(yīng)用實(shí)例。

面形誤差描述的是實(shí)際光學(xué)表面與設(shè)計(jì)表面之間的偏差。這些偏差包括整體形狀誤差、中頻波紋度和高頻粗糙度。白光干涉測(cè)量通過全場(chǎng)相位檢測(cè),能夠獲取表面的高度分布,與設(shè)計(jì)模型比對(duì)后可以得到面形誤差圖。這種方法具有非接觸、高精度、全場(chǎng)測(cè)量的特點(diǎn),適合光學(xué)元件的面形檢測(cè)。
NX2設(shè)備在光學(xué)檢測(cè)中的應(yīng)用包括多個(gè)方面。對(duì)于球面和非球面透鏡,可以測(cè)量曲率半徑誤差和面形偏差。對(duì)于平面鏡,可以檢測(cè)平面度和局部誤差。對(duì)于衍射光學(xué)元件和微透鏡陣列,可以測(cè)量微結(jié)構(gòu)的高度和周期。這些檢測(cè)為光學(xué)元件的加工和裝配提供了調(diào)整依據(jù)。
設(shè)備功能適應(yīng)光學(xué)檢測(cè)的需求。高垂直分辨率可以檢測(cè)納米級(jí)的面形誤差。大測(cè)量范圍可以適應(yīng)不同曲率的光學(xué)表面。自動(dòng)拼接功能可以測(cè)量大于視場(chǎng)的元件。數(shù)據(jù)分析工具可以計(jì)算峰谷值、均方根值、功率譜密度等參數(shù),全面評(píng)價(jià)面形質(zhì)量。
進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)時(shí),需要注意樣品準(zhǔn)備和測(cè)量設(shè)置。光學(xué)表面應(yīng)清潔,避免灰塵和污漬影響測(cè)量。樣品放置需要調(diào)整,使表面法線方向與光軸基本一致。對(duì)于高曲率表面,可能需要使用補(bǔ)償鏡或特殊物鏡。測(cè)量參數(shù)的設(shè)置需要根據(jù)表面特性和檢測(cè)要求確定。
數(shù)據(jù)分析在光學(xué)檢測(cè)中很重要。面形誤差圖可以直觀顯示誤差分布,幫助定位加工問題。誤差分離分析可以將面形誤差分解為不同空間頻率成分,對(duì)應(yīng)不同的工藝因素。與設(shè)計(jì)模型的偏差分析可以為加工補(bǔ)償提供數(shù)據(jù)。這些分析有助于改進(jìn)加工工藝,提高光學(xué)質(zhì)量。
設(shè)備校準(zhǔn)和維護(hù)對(duì)面形檢測(cè)的可靠性有影響。定期使用平面鏡或標(biāo)準(zhǔn)球面鏡校準(zhǔn),可以保證系統(tǒng)精度。在穩(wěn)定環(huán)境中使用,可以減少溫度變化和振動(dòng)的影響。規(guī)范的操作流程和數(shù)據(jù)處理方法,有助于獲得一致的檢測(cè)結(jié)果。
技術(shù)發(fā)展方面,光學(xué)檢測(cè)需求在不斷提高。自由曲面、復(fù)雜微結(jié)構(gòu)等新型光學(xué)元件的出現(xiàn),對(duì)檢測(cè)技術(shù)提出了新挑戰(zhàn)。檢測(cè)速度的提高、自動(dòng)化程度的增強(qiáng)、數(shù)據(jù)分析的智能化,是可能的發(fā)展方向。該設(shè)備作為光學(xué)檢測(cè)工具之一,其功能特點(diǎn)需要適應(yīng)這些發(fā)展。
應(yīng)用案例顯示,該設(shè)備在多種光學(xué)元件的檢測(cè)中有實(shí)際應(yīng)用。在激光光學(xué)中測(cè)量反射鏡的面形,在成像光學(xué)中測(cè)量透鏡組的波前誤差,在光通信中測(cè)量光纖端面的質(zhì)量等。這些應(yīng)用表明白光干涉測(cè)量在光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域有一定適用性。
總之,光學(xué)元件面形檢測(cè)是保證光學(xué)系統(tǒng)性能的重要環(huán)節(jié)。ZYGO Nexview NX2白光干涉儀提供了高精度的面形測(cè)量能力,在光學(xué)制造中有應(yīng)用潛力。對(duì)于光學(xué)行業(yè)的用戶,了解這類設(shè)備的檢測(cè)能力和應(yīng)用特點(diǎn),有助于在需要時(shí)做出合適的技術(shù)選擇。

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