澤攸高分辨率掃描電鏡制備技術探討樣品制備是掃描電鏡觀察的重要環節。澤攸ZEM20 Pro臺式掃描電鏡的樣品制備方法根據樣品特性有所不同。

導電樣品的制備相對簡單。通常只需將樣品固定在樣品臺上，確保良好的電接觸即可。對于尺寸較小的樣品，可以使用導電膠固定，避免觀察過程中樣品移動。

非導電樣品需要特殊處理。傳統的噴金方法可以增加樣品表面的導電性，避免荷電效應。ZEM20 Pro的低真空模式為非導電樣品觀察提供了另一種選擇，部分樣品可以不噴金直接觀察。

生物樣品制備較為復雜。常規制樣包括固定、脫水、干燥等步驟。臨界點干燥法可以更好地保持樣品結構，但操作較為復雜。選擇何種制樣方法需要根據研究目的決定。

粉末樣品的制備需要注意分散性。將粉末均勻分散在樣品臺上，避免團聚影響觀察效果。可以使用適當的分散劑輔助分散，但要注意分散劑不能影響觀察。

易損傷樣品需要特別小心。例如某些高分子材料在電子束照射下容易損傷，需要降低束流強度，縮短觀察時間。這些措施有助于減少對樣品的損傷。

特殊樣品的制備可能需要專門技術。例如需要觀察樣品截面時，要制備出平整的斷面。根據不同樣品特性，可以選擇合適的制樣方法，獲得所需的觀察效果。澤攸高分辨率掃描電鏡制備技術探討