澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南

選購ZEM20時需要綜合考慮研究需求和預算限制。基礎配置包括主機、電子光學系統、真空系統和基本探測系統，可滿足常規形貌觀察需求。若經常觀察非導電樣品，建議選配低真空模式或減速模式功能，這些功能能有效緩解樣品充電問題。

對于需要進行成分分析的用戶，能譜儀是必要選配。目前主流的硅漂移探測器具有較高計數率和能量分辨率，適合多數應用場景。若需要分析超輕元素，可考慮配備超薄窗口或無窗探測器，但需要注意維護要求更高。

樣品類型也是重要考慮因素。常規樣品使用標準樣品座即可，若需要觀察特殊形狀或尺寸的樣品，可選購專用樣品座。進行動態實驗研究的用戶應考慮原位實驗附件，如拉伸臺、加熱臺等。這些附件雖然增加投資，但能極大擴展設備功能。

售后服務同樣重要。建議選擇提供完善技術支持和培訓服務的供應商，確保設備始終處于良好狀態。定期維護合同能幫助預防潛在問題，減少意外停機時間。

ZEM20是澤攸科技ZEM系列中的一款，與其他型號如ZEM18、ZEM15C和ZEM Ultra場發射電鏡形成互補。ZEM20主要定位中端，分辨率4nm，放大倍數36萬倍；而ZEM Ultra場發射型號可能分辨率更高。選購時需關注：分辨率需求（是否高于4nm）、加速電壓范圍（ZEM20為20kV）、樣品倉尺寸（ZEM20為大倉設計）以及是否需原位附件。預算方面，ZEM20參考價格約60萬元人民幣，用戶應根據實際應用選擇配置，如材料科學可能需加熱臺，生物樣品可選減速模式。售后服務方面，澤攸科技提供1年質保、現場培訓與遠程診斷。澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南