澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用

• 鋰電顆粒：10?kV、50?pA 條件下，BSE 成像可分辨 30?nm 裂紋，低壓模式避免充電。

• 金屬粉末：利用 5?×?5 拼圖功能，自動(dòng) Z 軸移動(dòng) 60?µm，得到大景深全景圖，孔洞對(duì)比度 >?0.3，便于孔隙率統(tǒng)計(jì)。

• 生物濾膜：5?nm 金層抑制充電，3?kV 低壓下孔徑 200?nm 清晰可見(jiàn)，適合細(xì)胞捕獲后計(jì)數(shù)。

• EDS：配備 30?mm2 SDD 探測(cè)器，Mn?Kα 能量分辨率 129?eV（計(jì)數(shù)率 50?kcps），可實(shí)現(xiàn) B?C?N?O 輕元素的定量分析。

結(jié)語(yǔ)
澤攸?ZEM20 通過(guò)緊湊結(jié)構(gòu)、可靠真空、靈活的自動(dòng)化功能以及完善的維護(hù)體系，為材料科學(xué)、能源、生命科學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域提供了穩(wěn)定、可重復(fù)的微觀表征平臺(tái)。以上六篇推廣文章從硬件構(gòu)成、成像性能、材料工藝、操作指南、環(huán)境要求到典型應(yīng)用，系統(tǒng)展示了 ZEM20 的技術(shù)優(yōu)勢(shì)與實(shí)際價(jià)值，幫助實(shí)驗(yàn)室快速評(píng)估并實(shí)現(xiàn)采購(gòu)與使用。

澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應(yīng)用