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當前位置：首頁產品中心三維光學輪廓儀SENSOFAR共聚焦白光干涉儀S neoxSensofar 光學輪廓儀 ：應對復雜測量需求

Sensofar 光學輪廓儀 ：應對復雜測量需求

產品簡介

Sensofar 光學輪廓儀 ：應對復雜測量需求
S neox 憑借靈活的配置與穩(wěn)定的性能，能應對多種復雜測量場景，為特殊樣品與環(huán)境下的檢測提供支持。

產品型號：S neox
更新時間：2026-01-06
廠商性質：代理商
訪問量：190
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Sensofar 光學輪廓儀 ：應對復雜測量需求

S neox 憑借靈活的配置與穩(wěn)定的性能，能應對多種復雜測量場景，為特殊樣品與環(huán)境下的檢測提供支持。在高溫樣品測量場景中，設備可搭配高溫樣品臺附件，該樣品臺采用陶瓷加熱元件，加熱溫度范圍為室溫至 300℃，溫度控制精度 ±1℃，加熱過程中樣品臺表面溫度均勻性誤差≤2℃，適用于金屬材料高溫形變、高分子材料熱膨脹系數(shù)測量等需求。高溫樣品臺與設備主體采用隔熱設計，避免高溫傳導至光學系統(tǒng)，保障測量精度。


Sensofar 光學輪廓儀 ：應對復雜測量需求

低溫環(huán)境測量方面，低溫樣品艙附件能將樣品溫度控制在 -40℃ 至室溫范圍，艙體采用雙層真空設計，有效隔絕外部熱量傳入，內部配備溫度傳感器與制冷系統(tǒng)，溫度調節(jié)響應速度快，從室溫降至 -40℃ 僅需 30 分鐘。該附件適用于冷凍生物樣品、低溫超導材料等特殊樣品的表面形貌檢測，如檢測冷凍細胞的三維結構，避免常溫下細胞變形影響測量結果。
在強電磁干擾環(huán)境中，S neox 可通過電磁屏蔽罩附件提升抗干擾能力，屏蔽罩采用多層金屬屏蔽結構，對 10kHz-1GHz 頻率范圍內的電磁干擾衰減量達 60dB 以上，確保設備在電子廠、實驗室等存在強電磁輻射的環(huán)境中仍能穩(wěn)定工作。針對透明樣品測量，設備配備偏振光模塊，通過調節(jié)偏振方向與強度，增強透明樣品表面的對比度，清晰呈現(xiàn)樣品的微觀結構，如測量玻璃表面的微裂紋與劃痕，解決透明樣品成像困難的問題。
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