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三維光學輪廓儀
BEUKER白光干涉光學輪廓儀
ContourX-100BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質檢基礎設備
                    



產品簡介
                BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質檢基礎設備在小型五金廠、電子配件廠等小型制造企業,布魯克 ContourX-100 以低成本、易維護的優勢,成為產品質量檢測的入門級設備,幫助企業把控基礎生產質量。
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BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質檢基礎設備
參數項  | 具體數值  | 
橫向分辨率  | 最高可達 1μm  | 
縱向分辨率  | 低至 5nm  | 
縱向測量范圍  | 5nm-3mm  | 
樣品臺尺寸  | 80mm×80mm  | 
單次測量時間  | 約 3-5 分鐘(標準參數)  | 
數據存儲  | 支持 SD 卡(最大 32GB)、本地存 200 組  | 
對比功能  | 支持自定義標準數據,自動對比  | 
電源要求  | 220V±10%,50Hz  | 
工作溫度  | 15-32℃  | 
相對濕度  | 20%-75%(無冷凝)  | 
BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質檢基礎設備