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PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
更新時(shí)間:2026-01-04
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SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng)高匹配360°(無限)旋轉(zhuǎn)冷臺(tái),冷臺(tái)傾轉(zhuǎn)角度55°,冷臺(tái)溫度≤180℃。
更新時(shí)間:2026-01-04
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SEM熱電芯片臺(tái)可搭配電學(xué)測(cè)試,兼容型號(hào)掃描電鏡,芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。
更新時(shí)間:2026-01-04
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PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場(chǎng)耦合研究。
更新時(shí)間:2026-01-04
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PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統(tǒng),集成了掃描探針控制單元,可在三維空間內(nèi)對(duì)電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級(jí)別精度的操縱與定位。
更新時(shí)間:2026-01-04
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PicoFemto掃描電鏡原位高溫拉伸臺(tái)集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊,可以實(shí)現(xiàn)在掃描電鏡中對(duì)樣品原位加熱的同時(shí)進(jìn)行拉伸實(shí)驗(yàn)。本產(chǎn)品采用新一代的高溫拉伸方案,加熱臺(tái)直接貼緊樣品,保證了溫度的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2026-01-04
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