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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar LIN:入門級(jí)三維測(cè)量輪廓儀新選? Sensofar經(jīng)濟(jì)型三維共聚焦白光干涉輪廓儀是一款集成了多種優(yōu)良光學(xué)技術(shù)的高精度測(cè)量設(shè)備。其核心功能包括共聚焦、白光干涉和相位差干涉,能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)精度的表面形貌測(cè)量。設(shè)備具備高分辨率、快速掃描和大范圍測(cè)量能力,適用于多種材質(zhì)和結(jié)構(gòu)的表面檢測(cè)。
更新時(shí)間:2026-01-06
產(chǎn)品型號(hào):
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Sensofar 輪廓儀:微型電子元件的檢測(cè)利器 在微型電子元件制造領(lǐng)域,如微型傳感器、微型連接器、芯片封裝元件等,其尺寸通常以微米為單位,表面質(zhì)量與尺寸精度直接決定元件的電氣性能與裝配兼容性。哪怕是幾微米的尺寸偏差或細(xì)微劃痕,都可能導(dǎo)致元件無(wú)法正常工作或裝配失效。
更新時(shí)間:2026-01-06
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar 輪廓儀:精密模具制造質(zhì)檢保障 在精密模具制造領(lǐng)域,模具的表面質(zhì)量、尺寸精度與紋理一致性直接決定了成型產(chǎn)品的質(zhì)量。無(wú)論是汽車零部件模具的細(xì)微紋路,還是電子元件模具的微小型腔,哪怕微米級(jí)的誤差都可能導(dǎo)致產(chǎn)品報(bào)廢。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀 S neox,憑借對(duì)微觀結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)檢測(cè)能力與適配模具檢測(cè)場(chǎng)景的特性,成為精密模具制造全流程質(zhì)量控制的重要工具,為模具設(shè)計(jì)驗(yàn)證、
更新時(shí)間:2026-01-06
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar S neox:生物醫(yī)學(xué)研究的觀測(cè)助手 在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,從生物組織樣本的微觀結(jié)構(gòu)觀測(cè),到醫(yī)療植入體的表面質(zhì)量檢測(cè),都需要精準(zhǔn)且無(wú)損的觀測(cè)手段。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀 S neox,憑借非接觸式檢測(cè)特性、納米級(jí)觀測(cè)精度以及對(duì)生物樣本的友好適配性,成為生物醫(yī)學(xué)研究與醫(yī)療產(chǎn)品質(zhì)控的實(shí)用工具,為該領(lǐng)域的科研與生產(chǎn)提供可靠支持。
更新時(shí)間:2026-01-06
產(chǎn)品型號(hào):
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Sensofar S neox:光學(xué)元件制造的質(zhì)控利器 在光學(xué)元件制造領(lǐng)域,透鏡、棱鏡、反射鏡等產(chǎn)品的表面質(zhì)量直接決定了光學(xué)系統(tǒng)的成像效果與性能。哪怕是微米級(jí)的面型誤差或細(xì)微劃痕,都可能導(dǎo)致光線折射、反射異常,影響最終使用體驗(yàn)。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀 S neox,憑借對(duì)微觀表面的精準(zhǔn)捕捉能力與適配光學(xué)元件檢測(cè)的特性,成為光學(xué)元件制造過(guò)程中質(zhì)量控制的關(guān)鍵工具,為各類光學(xué)元件
更新時(shí)間:2026-01-06
產(chǎn)品型號(hào):
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Sensofar S neox:半導(dǎo)體行業(yè)檢測(cè)好幫手 在半導(dǎo)體行業(yè),芯片從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)的每一個(gè)環(huán)節(jié),都對(duì)精度有著要求,微小的表面缺陷或尺寸偏差都可能影響芯片性能。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀 S neox,憑借精準(zhǔn)的檢測(cè)能力與適配半導(dǎo)體場(chǎng)景的特性,成為半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中質(zhì)量把控的重要工具,為芯片制造的多個(gè)環(huán)節(jié)提供可靠檢測(cè)支持。
更新時(shí)間:2026-01-06
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