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Sensofar共聚焦白光干涉難測樣品輕松應對 在檢測玻璃鏡片、透明薄膜、光學樹脂等透明樣品時,傳統輪廓儀常因表面反光導致數據失真,而 Sensofar S lynx2 通過專屬光學設計與算法優化,能有效削弱反光干擾,同時捕捉樣品表面與內部的細微特征。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S lynx2
瀏覽量:185
Sensofar共聚焦白光干涉捕捉細微結構輪廓儀 在檢測微小樣品(如芯片引腳、微型齒輪、光學薄膜)時,傳統輪廓儀常因分辨率不足,難以清晰呈現微米級甚至納米級的表面結構,而 Sensofar S lynx2 依托三維共聚焦白光干涉技術,能精準捕捉這類細微特征,為精密檢測提供支持。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S lynx2
瀏覽量:165
Sensofar S wide選的對用的久的測量設備 對用戶而言,測量設備的 “長期性價比” 不僅看初期投入,更取決于耐用性與后續維護成本,Sensofar S wide 在這兩方面均有貼心設計,減少長期使用的顧慮。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S-wide
瀏覽量:170
Sensofar S wide復雜環境也能穩用的測量儀 實驗室與生產車間的環境差異較大,有的干燥多塵,有的潮濕悶熱,而 Sensofar S wide 在設計時就考慮了多環境適配性,能在不同條件下保持穩定檢測性能,不用額外搭建專用檢測空間。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S-wide
瀏覽量:173
Sensofar S wide:日常用的順手的測量儀 檢測大尺寸樣品時,傳統設備常因對擺放精度要求高,導致工作人員需要反復調整樣品位置,既耗時又費力。而 Sensofar S wide 從樣品放置的細節入手,大幅降低操作難度,讓大尺寸樣品檢測更輕松。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S-wide
瀏覽量:146
Sensofar S wide三大行業的大尺寸檢測助手 電子行業中,大尺寸柔性電路板、面板類產品的檢測是質量控制的關鍵,傳統設備因視野限制,常面臨 “檢測慢、易漏檢” 的問題,而 Sensofar S wide 的大視野設計,正好適配這類產品的檢測需求。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S-wide
瀏覽量:155